profilometrija

Pastaruoju metu pramonėje vis didesnis dėmesys  skiriamas gaminamų detalių paviršiaus topografijai. Ypač didelis dėmesys skiriamas funkcinių paviršių šiurkštumui, nes nuo paviršiaus šiurkštumo priklauso trintis ar kiti mechaniniai procesai, kurie gali itin smarkiai daryti įtaką detalės ilgaamžiškumui. Kiekvienais metais įvairių detalių geometrija sudėtingėja, tiksliai nustatyti paviršiaus šiurkštumą naudojant standartinius metodus tampa tiesiog neįmanoma, todėl bekontaktė paviršiaus metrologija, tokia kaip optinė profilometrija, yra puiki alternatyva paviršių tyrimams atlikti.

Optinis profilometras, priešingai nei kontaktinis šiurkštumo matuoklis, yra prietaisas, skirtas nedestruktyviam, bekontakčiam paviršiaus analizės tyrimui atlikti. Optiniu profilometru gaunami paviršiaus matavimai yra tridimensiniai; paviršiaus analizės efektyvumas, kitaip nei kontaktinio šiurkštumo matuoklio atveju, nepriklauso nuo adatėlės dydžio, todėl įrenginiu galima atlikti matavimus paviršių, kuriems būdingi nuolydžių kampai iki 86º.

Šis prietaisas pajėgus gauti sudėtingų, varijuojančių, periodinių bei neperiodinių paviršių 2D ir 3D topografinius vaizdus. Gera vaizdų kokybė, aiškumas bei aštrumas yra užtikrinamas įrenginyje naudojamų Nikon objektyvų lęšių. Prietaise yra galimos trys skirtingos matavimo technikos: interferometrija, konfokalinis metodas ir fokusavimo variacija. Šios technologijos naudojamos skirtingo šiurkštumo paviršių tyrimams atlikti, todėl, atitinkamai pasirinkus matavimo techniką, optiniu profilometru gali būti nustatomas paviršių šiurkštumas intervale nuo 5 nm iki 500 μm bei, tam tikromis funkcijomis panaikinus paviršiaus šiurkštumą, gali būti nustatomas paviršiaus banguotumas. Taigi, šis universalus įrenginys yra ypač naudingas pramoninėje gamyboje norint įvertinti gaminių topografinius ypatumus bei paviršiaus kokybę.